環境基準と生産設備は、より高性能なX線蛍光（XRF）と電子プローブマイクロアナライザー（EPMA）を継続して必要になります。これら2つの分析技術は、物質を構成する元素の識別と定量化を可能にします。

多層膜モノクロメータは、軽元素の探査と分析の基準として高く評価されています。

多層膜コーティングの幅広い経験と表面加工、さらに新型の計測学に基づき、Xenocs社は高性能なXRF蛍光分析器を広範囲にわたって開発しています。

独自の複製技術をもつXenocs社は、検出と処理量の下限値の改善につながる新しい分析器の構造を開発しています。

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XRF光学系

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